相控陣檢測探頭晶片檢查的幾種方法

作者：李鵬頻

摘要：超聲波相控陣檢測是新型的功能強大的NDT檢測方法,并且發展迅速。相控陣技術與常規UT相比,具有能使用多個小晶片來完成聲束控制、聲束聚焦和產生多組角度聲束的優勢。相控陣探頭中晶片的好壞直接關系到探頭的性能。本文重點討論了幾種晶片檢查的方法,并比較各方法的特點及優劣。同時總結ASME標準及ISO標準對于晶片檢查的相關要求,以期為相控陣探頭晶片檢查提供參考。

發文機構：海洋石油工程股份有限公司

關鍵詞：超聲波相控陣探頭晶片晶片檢查ultrasonicphased arrayprobeelementelement check

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