掃描儀在巖礦鑒定與巖相學研究中的應用——薄片掃描法

作者：張貴山,彭仁,邱紅信

摘要：利用偏光顯微鏡進行巖礦鑒定和巖相學分析是礦物學、巖石學研究的一項基本工作。常用偏光顯微鏡的觀察視域范圍狹小,視域大小不能隨意變動,這對大視域觀察與識別鏡下巖石的結構、構造、顯微地質現象和粗大礦物等造成困難。基于上述問題,本文在偏光顯微鏡成像原理基礎上,開發出利用掃描儀和偏振光片獲取巖石薄片大視域圖像的方法,即薄片掃描法。該方法能獲得大視域的單偏光和正交偏光圖像,為科學研究提供精確的、全面的圖像證據資料。薄片掃描法所需設備簡單、操作簡易、能獲得全域精美的數字化圖像、能清晰的反映礦物結構構造和地質現象,為識別礦物學和巖石學信息提供了科學方法。薄片掃描法適用于礦物顆粒粗大、形態復雜的顯微地質現象,常規偏光顯微鏡下不能反映結構、構造的樣品。薄片掃描法的成功開發,對巖相學、構造巖相學等方面的研究具有現實意義。

發文機構：長安大學地球科學與資源學院 西部礦產資源與地質工程教育部重點實驗室

關鍵詞：薄片掃描法大視域圖像掃描儀偏振光片The thin section scanning methodlarge view imagescannerpolarizer

分類號： P575[天文地球—礦物學][天文地球—地質學]P585