作者:朱世松,楊文藝,侯廣順,蘆碧波,魏世鵬
摘要:在偏光顯微鏡下觀察巖石薄片,對巖石結構和礦物成分進行分析和鑒定,是地質工作者進行巖石命名、研究巖石成因、進行地質勘探等任務最常用的工具和方法之一[1]。巖石薄片顯微圖像全面真實地反映了巖石微觀的結構構造、礦物成分、粒度大小、蝕變程度等特征。目前在顯微鏡下觀察巖石薄片主要是專業人員憑借多年積累的知識、經驗來確定巖石薄片中的礦物,受主觀因素影響較大且費時費力,不同專家對分析結果也存在一定的差異。研究人員借助計算機技術分析巖石薄片圖像并自動識別巖石種類,提高巖石薄片顯微圖像分類效率,節約時間和成本[2]。
發文機構:河南理工大學計算機科學與技術學院 河南理工大學資源環境學院
關鍵詞:巖石薄片偏光顯微鏡分類與識別智能分類
分類號: P585[天文地球—巖石學][天文地球—地質學]