紅外測厚技術在超薄薄膜和多層共擠薄膜生產線上的應用

作者：董殿會,程江,王廣彪

摘要：由于傳統的貝它（Beat）技術、伽瑪（Gamma）技術和X射線（X—ray）技術，在測量超薄薄膜厚度時技術不完善，更無法測量多層共擠材料中阻隔層的厚度。NDC近紅外技術利用不同材料對近紅外光具有不同吸收波長的原理，可測量多層共擠材料每一層的厚度；NDC近紅外專利技術抑制了光學條紋干涉（OFI）的影響，能高精度、高分辨率、無任何放射性地測量超薄薄膜的厚度。

發文機構：NDC紅外技術公司

關鍵詞：紅外測厚技術超薄薄膜多層共擠薄膜

分類號： TQ055.81[化學工程]TS252.7[輕工技術與工程—農產品加工及貯藏工程][輕工技術與工程—食品科學與工程]