掃描探針DFM模式下的炭黑表面微觀結構研究

作者：張敬雨,歐潔,金永中,陳建

摘要：采用掃描探針顯微鏡（SPM）的技術，用動態非接觸掃描模式DFM掃描炭黑微觀的表面結構，通過加入適當的分散劑來觀察單個炭黑粒子的表面形貌，得出了炭黑粒徑及表面粗糙度等數值，發現表面粗糙度是炭黑補強的重要參數，豐富了炭黑補強在微觀方面的內容。

發文機構：四川理工學院材料與化學工程系

關鍵詞：炭黑表面微觀結構掃描探針顯微鏡橡膠補強

分類號： TQ340.1[化學工程—化纖工業]