作者:梁寶玲,許漢冰,趙軍
摘要:運用掃描電遷移率粒徑譜儀對比測試自制軟X射線中和器(CM-SXR)與商業化TSI高級氣溶膠中和器(TSI-SXR)。研究結果表明,對于20 nm以上顆粒物,在差分電遷移率分析儀(SMPS)篩分負電荷模式下,對不同顆粒物(聚苯乙烯乳膠顆粒、硫酸銨及氯化鈉顆粒、室內空氣顆粒)的測試均顯示,使用自制中和器比使用TSI中和器測量所得的顆粒物數濃度要高,濃度差異最大達40%;而在篩分正電荷模式下,其結果正好相反,最大濃度差達77%。造成上述差異的原因可能是由于軟X射線在兩種中和器中放置位置不同而導致放射程度不同以及停留時間存在差異,從而最終導致中和器中顆粒物正負電荷分布不同。
發文機構:中山大學大氣科學學院 中山大學公共實驗教學中心 南方海洋科學與工程廣東省實驗室(珠海) 廣東省氣候變化與自然災害研究重點實驗室 華南氣候環境與全球變化綜合觀測開放實驗站
關鍵詞:軟X射線中和器大氣氣溶膠粒徑分布顆粒中和soft X-rayneutralizeratmospheric aerosolssize distributionparticle neutralizing
分類號: X851[環境科學與工程—環境工程]