渦街流量計在四氧化二氮加注系統中的腐蝕產物分析

作者：李彬,韋樹峰,呂鏢

摘要：航天發射場加注庫房數字式渦街流量計在四氧化二氮加注系統中長期使用,會致使其表面形成一定的腐蝕產物,改變其精度與準確性,進而影響加注量。為探討其腐蝕產物的成分及形成機理,采用FEI場發射電子掃描電鏡(SEM)、能譜分析儀(EDAX)和X射線光電子能譜儀(XPS)分別對腐蝕產物的表面形貌、組成含量及其存在形態進行了表征。結果表明,腐蝕表面由內部結合較為致密的黑色和黃色腐蝕產物構成,兩者均含有N、O、Cr、Fe、Ni等元素,但黃色腐蝕產物的N含量和O含量相對更高,腐蝕更為嚴重。腐蝕產物主要以Fe2O3、Cr2O3、Ni2O3等金屬氧化物形式存在,腐蝕過程同時含有化學腐蝕和電化學腐蝕,但以化學腐蝕為主。

發文機構：太原衛星發射中心

關鍵詞：渦街流量計四氧化二氮加注系統腐蝕產物vortex flowmeterdinitrogen tetroxidefilling systemcorrosion products

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