用耦合諧振環法測量微帶基片的介質特性

摘要：著重介紹了利用耦合諧振環法測量微帶基片介電常數和損耗角正切的技術,并通過軟件仿真及實物測量驗證了該方法的正確性及測量精確度。在1～12GHz頻率范圍內,介電常數測量不確定度為±3%,損耗角正切測量不確定度為±30%。該方法的測量電路易于制備,對測量環境要求較低,可用于普通的實驗室測試。

關鍵詞：耦合諧振環介電常數損耗角正切微帶基片

分類號： TN4[電子電信—微電子學與固體電子學]