光干涉條紋檢測中的一種并行迭代相位解纏算法應用研究

作者：王超燕,陳欣揚

摘要：從干涉條紋信息中提取出的相位信號能夠用于測量光學合成孔徑陣列中各子孔徑之間的相對光程差。相位解纏是恢復真實相位的關鍵步驟。本文借鑒一種并行抗噪解纏算法,提出以差分值的極性變化作為判據進行波形整形,同時結合子孔徑相對光程差標校測量過程中的干涉條紋數據,開展預處理和相位解纏,最后獲得均方根值約16 nm的解纏精度。

發文機構：中國科學院上海天文臺

關鍵詞：天文光干涉相對光程差相位解纏算法

分類號： TN95[電子電信—信號與信息處理][電子電信—信息與通信工程]