殘差控制圖應用中的自相關過程模型研究

作者：肖艷,李亞平,俞少君

摘要：隨著自動化技術的發展,數據自相關現象在現代制造業中普遍存在。基于自相關模型的殘差控制圖是解決自相關數據統計監控問題的一類較好方法。現有研究均假設數據呈一階自相關,僅研究一階自回歸模型與殘差控制圖結合的過程監控問題。但是,實際生產中觀測數據可能服從多階自相關。基于此,針對數據多階自相關的過程監控問題,運用蒙特卡洛仿真法,研究不同自回歸階數的自回歸模型對殘差控制圖性能的影響。研究表明:在殘差控制圖應用中,過程受控時,一階自回歸模型的表現與同階自回歸模型的性能表現相當,即二者發生第一類錯誤的概率相差不大;而在質量偏移診斷中,一階自回歸AR(1)模型的性能表現整體優于同階的自回歸模型,大大降低了漏警的成本。

發文機構：南京林業大學經濟管理學院

關鍵詞：自相關自回歸模型殘差控制圖autocorrelationautoregressive modelresidual control chart

分類號： O213.1[理學—概率論與數理統計]