作者:胡靈雪,王志遠,李艷婷,潘爾順
摘要:為了提高監測均值和方差微小偏移的敏感度,圍繞生產過程質量控制,建立同時監控均值和方差的累積和控制圖。模型考慮均值和方差的變化,針對生產過程中的微小偏差,提出了一個新的累積和控制圖,并給出了基于馬爾可夫鏈理論的新控制圖的平均鏈長計算方法。編程求解后對比文獻中各控制圖的平均鏈長數據以及更換變量數值改進控制圖,通過計算變動比率得出新控制圖的檢測力度在不同偏移力度下都明顯優于其他控制圖方法。
發文機構:上海交通大學機械與動力工程學院
關鍵詞:累積和控制圖馬爾可夫鏈平均鏈長semi-circle控制圖CUSUM chartMarkov chainaverage run lengthsemi-circle chart
分類號: O213.1[理學—概率論與數理統計][理學—數學]