非完整樣本容量對工序能力影響分析

作者：王少熙,賈新章

摘要：根據非線性最小二乘擬合方法，針對元器件廠家進行工序能力指數Cpk計算時，在不能獲得全部數據的情況下無法使用傳統方法完成Cpk的正確評估，采用Levenberg-Marquarat算法解決Gauss-Newton算法中的Hessian矩陣病態問題，引入阻尼因子調整取值點的迭代方向，以數學期望公式表征累積分布函數值，建立數據非線性優化擬合模型。以實例檢驗此數學模型并得出常用數據值。

發文機構：西安電子科技大學微電子學院寬禁帶半導體材料與器件教育部重點實驗室

關鍵詞：非線性最小二乘法工序能力指數正態分布標準偏差樣本容量non-linear least squaresprocess capability indexnormal distributionstandard deviationsample size

分類號： C931.1[經濟管理—管理學][社會學]