知識產權保護、貿易技術溢出與企業創新績效——基于面板門限模型的分析

作者：鄭玉

摘要：本文運用面板門限模型實證分析我國企業通過進口貿易渠道獲得的技術溢出效應,并檢驗我國知識產權保護的強度在此過程中所產生的影響,發現知識產權保護在進口貿易的技術溢出中發揮了顯著的雙門檻效應,且當知識產權保護跨越某一門檻值時,貿易的技術溢出效應對我國企業創新績效的影響是跳躍式增強的。因此,我國應根據市場偏好來合理設計和利用知識產權保護資源。

發文機構：鄭州輕工業學院經濟與管理學院

關鍵詞：知識產權貿易門限效應技術溢出intellectual property rightstradeThreshold Effecttechnology spillover

分類號： F204[經濟管理—國民經濟]